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          惠州市華高儀器設備有限公司
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          電話/傳真:0752-7168848
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           X射線熒光鍍層測厚儀品牌

          X射線熒光鍍層測厚儀品牌

          • 型   號:
          • 價   格:

          X射線熒光鍍層測厚儀品牌:本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業小樣品測試腔的設計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統,眾多Z佳條件的選擇,保證測試結果的準確性。X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。

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          X射線熒光鍍層測厚儀品牌

             配置型號

          探測器

          X光管

          高壓電源

          Ux-700 M

          AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

          上??祁U維(國產)

          咸陽威思曼(國產)

          Ux-700 H

          AMPTEK Si-PIN X-123(進口)

          上??祁U維(國產)

          spellman(進口)

          Ux-700 S

          AMPTEK SDD X-123(進口)

          上??祁U維(國產)

          spellman(進口

          X射線熒光鍍層測厚儀品牌

          UX-700產品指標:

          測厚技術:X射線熒光測厚技術

          測試樣品種類:金屬鍍層,合金鍍層

          測量下限:0.003um

          測量上限:30-50um(以材料元素判定)

          測量層數:10層

          測量用時:30-120秒

          探測器類型:Si-PIN電制冷   

          探測器分辨率:149eV

          高壓范圍:5-50Kv,50W

          X光管參數:5-50Kv,50W,側窗類;

          光管靶材:Mo靶;

          濾光片:鍍層濾光片

          CCD觀察:260萬像素

          微移動范圍:XY15mm

          輸入電壓:AC220V,50/60Hz

          測試環境:非真空條件

          數據通訊:USB2.0模式

          準直器:Ø0.5mm

          軟件方法:FlexFP-Mult

          工作區:開放工作區 自定義

          樣品腔:70*20mm

          整機重量:38kg

           

          UX-700產品介紹:

              本著對插接件等細小結構件的單鍍層和多鍍層厚度的測量,Ux-700更專業小樣品測試腔的設計,帶有聚焦光點的準直器,高分辨率的探測系統,眾多條件的選擇,保證測試結果的準確性。

              X射線熒光技術測試鍍層厚度的應用,提高了大批量生產電鍍產品的檢驗條件,無損、快速和更準確的特點,對在電子和半導體工業中品質的提升有了檢驗的保障。

              Ux-700鍍層測厚儀配備了XY軸微移動平臺,可以通過鼠標的點擊操作,選擇樣品的多點測試,特別適應于細小結構多種不同鍍層材料的測試。

              Ux-700鍍層測厚儀具有高清晰、高放大倍數的攝像設備,測試樣品的部位清楚明了,同時攝像設備拍抓測試部位的圖片,和測試數據結果一同出現在測試報告中。

              Ux-700鍍層測厚儀采用了華唯技術FlexFp -Multi,不在受標準樣品的限制,在無鍍層標樣的情況下直接可以測試樣品的鍍層厚度。

           

          UX-700 鍍層測厚方法:

          1.磁性涂層測厚法

              使用磁性測厚法可測鐵、鋼導磁金屬上面的所有非導磁金屬和所有非導電層的厚度,如鐵上鍍銅、鋅、鉻、金、銀等,涂的油漆、塑料、橡膠、磷化膜、玻璃鋼等。

          2.渦流層層測厚法

              可以測量非導磁導電金屬上面非導電涂層的厚度,如不銹鋼、銅、鋁金屬上的油漆層、氧化膜、磷化膜、玻璃鋼、橡膠等圖層的厚度

          3.X射線熒光法

              所有金屬材料/非金屬材料上單金屬成分、2元或多元合金材料的單層和多層厚度的測試,同時可以測試鍍層材料的合金成分含量比例。

           

          常用單位:

          微米(um),微英寸(u‘’)俗語“邁”,密耳(mil)

          1um=39.4邁, 1um=0.04mil

           

           

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