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          • 日本電子熱場發射掃描電子顯微鏡 適用于納米材料、化學、新材料、半導體器件的觀察和分析。
          • 日本電子掃描電鏡 、日本JEOL掃描電子顯微鏡JSM-IT200 InTouchScope · JSM-IT200 InTouchScope™ 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。
          • 日本電子掃描電子顯微鏡 JCM-700強大的“Zeromag“功能,讓您從光學顯微鏡的觀察方式,輕松的無縫接軌到掃描電鏡的影像觀察?!癓ive Analysis“則實現了SEM影像觀察時實時的EDS成份分析。
          • 掃描探針顯微鏡(SPM)是在樣品表面用微小的探針進行掃描,通過高倍率觀察三維形貌和局部物理特性的顯微鏡總稱。懸臂和樣品始終保持接觸,控制懸臂與樣品之間的相互作用保持一定狀態下,掃描樣品表面的模式。這是Z典型的AFM模式,可以得到目前Z高分辨率圖像。懸臂在諧振頻率附近震動。在懸臂震動的狀態下懸臂接近樣品時振幅會發生變化。
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